ESPECTRÓMETRO DE MASAS DE IONES SECUNDARIOS POR TIEMPO DE VUELO (TOF-SIMS) ION-TOF TOF-SIMS IV

Familia: ESPECTRÓMETROS

Categoría: ESPECTRÓMETRO DE MASAS DE IONES SECUNDARIOS POR TIEMPO DE VUELO (TOF-SIMS)

Ámbito: Científico

Áreas de conocimiento:

• Multidisciplinar

Responsable: Responsable do Servizo de Nanotecnoloxía e Análise de Superficies

Localizacion: CACTI-Servicio de Nanotecnología y Análisis de Superficies

Centro: Centro de Apoio Científico e Tecnolóxico á Investigación (CACTI)

Despacho/laboratorio: M3-LAB8

Estado: Activo

Fabricante/Marca: ION-TOF

Modelo: TOF-SIMS IV

Fecha de Adquisición: 24/09/2003

Ofertado como servicio a: No ofertado