ESPECTRÓMETRO DE MASAS DE IONES SECUNDARIOS POR TIEMPO DE VUELO (TOF-SIMS) ION-TOF TOF-SIMS IV

Family: ESPECTRÓMETROS

Category: ESPECTRÓMETRO DE MASAS DE IONES SECUNDARIOS POR TIEMPO DE VUELO (TOF-SIMS)

Ambit: Científico

Knowledge areas:

• Multidisciplinar

Responsible: Responsable do Servizo de Nanotecnoloxía e Análise de Superficies

Location: CACTI-Servicio de Nanotecnología y Análisis de Superficies

Center: Centro de Apoio Científico e Tecnolóxico á Investigación (CACTI)

Office/laboratory: M3-LAB8

State: Activo

Manufacturer/Brand: ION-TOF

Model: TOF-SIMS IV

Acquisition date: 24/09/2003

Offered as a service to: No ofertado